產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER
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紅外多波段中心偏差測(cè)量?jī)x OptiCentric®IR
OptiCentric? IR紅外中心偏差測(cè)量?jī)x是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量紅外光學(xué)鏡頭中各個(gè)鏡片的光軸相對(duì)與參考軸的中心偏差,是目前世界上最有效的測(cè)量紅外光學(xué)系統(tǒng)中各表面的相對(duì)偏心的儀器。¥ 0.00立即購(gòu)買(mǎi)
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ImageMaser® Lab AR 光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量?jī)x AR鏡頭光學(xué)參數(shù)測(cè)量?jī)x 鏡頭成像質(zhì)量測(cè)量
TRIOPTICS GmbH設(shè)計(jì)的ImageMaster? Lab AR光學(xué)系統(tǒng)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于光波導(dǎo)及AR整機(jī)的成像檢測(cè)。¥ 0.00立即購(gòu)買(mǎi)
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鏡面間隔及中心偏差測(cè)量?jī)x OptiCentric®3D
OptiCentric? 3D是結(jié)合OptiCentric?中心偏差測(cè)量?jī)x系列及OptiSurf?鏡面定位儀系列二者的功能而開(kāi)發(fā)完成的;它不僅能夠測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)的中心偏差,還能夠測(cè)量鏡片間的空氣間隔及鏡片的中心厚度;由于在同一臺(tái)設(shè)備上可同時(shí)測(cè)量中心偏差和鏡面間距,這極大的方便了光學(xué)系統(tǒng)的高精度裝調(diào)。¥ 0.00立即購(gòu)買(mǎi)
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高精度非接觸式光學(xué)測(cè)厚儀 LensThick非接觸式光學(xué)測(cè)厚儀
LensThick非接觸式光學(xué)測(cè)厚儀利用光的獨(dú)特性質(zhì)測(cè)量厚度,其測(cè)量原理為:測(cè)量激光照射到被測(cè)試材料上,經(jīng)過(guò)每個(gè)表面反射后被收集,然后在...¥ 0.00立即購(gòu)買(mǎi)
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TRIOPTICS
GW
INFRAMET
MEASOPT
歐光科技(EUROPTICS®)致力于光學(xué)精密制造與檢測(cè)領(lǐng)域,是眾多國(guó)際知名光學(xué)研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)的設(shè)備供應(yīng)商。歐光科技不僅為客戶提供世界優(yōu)秀的儀器設(shè)備,同時(shí)也應(yīng)客戶的需求為客戶提供更好的解決方案。
合作的品牌: 德國(guó)全歐光學(xué)TRIOPTICS GmbH、、 GW、MEASOPT等。
銷(xiāo)售的產(chǎn)品主要有:光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x、中心偏差測(cè)量?jī)x、測(cè)角儀、折射率測(cè)量?jī)x、光學(xué)測(cè)厚儀、曲率半徑測(cè)量?jī)x、測(cè)焦儀、內(nèi)調(diào)焦自準(zhǔn)直儀、大口徑平行光管、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、影像測(cè)量機(jī)、表面粗糙度測(cè)量?jī)x。
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什么是晶圓貼膜技術(shù)?為什么說(shuō)它是半導(dǎo)體制造關(guān)鍵工藝
在半導(dǎo)體芯片制造的精密流程中,晶圓貼膜(Wafer Mount)作為銜接晶圓減薄與劃片工藝的核心環(huán)節(jié),其技術(shù)實(shí)施質(zhì)量對(duì)芯片制造良率具有決定性影響。該工藝通過(guò)精密的材料工程與工藝控制,為減薄后的脆弱晶圓提供結(jié)構(gòu)性支撐,確保后續(xù)切割、封裝工序的穩(wěn)定性,是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中兼具技術(shù)門(mén)檻與產(chǎn)業(yè)價(jià)值的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)。
넶0 2025-06-03 -
飛秒激光技術(shù)在金剛石精密加工中的革新應(yīng)用
金剛石因其高硬度、高熱導(dǎo)率、量子特性等優(yōu)異性能,在半導(dǎo)體、量子科學(xué)等前沿領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值。然而,其特殊物理化學(xué)屬性導(dǎo)致精密加工面臨尺寸精度要求高、熱損傷敏感等瓶頸。飛秒激光加工技術(shù)憑借超短脈沖特性、非接觸式加工優(yōu)勢(shì)及高精度操控能力,為金剛石微孔、盲槽等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的精密加工提供了突破性解決方案。本文系統(tǒng)闡述金剛石的材料特性與加工難點(diǎn),深入分析飛秒激光技術(shù)的適配性?xún)?yōu)勢(shì),并展望其在高端制造領(lǐng)域的發(fā)展前景。
넶4 2025-06-03 -
什么是牛頓環(huán)?牛頓環(huán)現(xiàn)象的光學(xué)原理與應(yīng)用研究
牛頓環(huán)作為光學(xué)領(lǐng)域的經(jīng)典干涉現(xiàn)象,自17世紀(jì)被牛頓發(fā)現(xiàn)以來(lái),一直是研究光的波動(dòng)性和薄膜干涉的重要模型。本文系統(tǒng)闡述牛頓環(huán)的發(fā)現(xiàn)歷程、物理機(jī)制及其在光學(xué)檢測(cè)、精密測(cè)量等領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值,揭示其在現(xiàn)代光學(xué)工程中的科學(xué)意義與實(shí)際貢獻(xiàn)。
넶3 2025-06-03 -
光學(xué)分辨率測(cè)量核心技術(shù):分辨率板原理與應(yīng)用全解析
在光學(xué)系統(tǒng)的性能評(píng)估體系中,分辨率作為衡量成像質(zhì)量的核心指標(biāo),直接反映了設(shè)備捕捉細(xì)節(jié)的能力。從工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域的精密零件缺陷識(shí)別,到天文觀測(cè)領(lǐng)域的遙遠(yuǎn)星體細(xì)節(jié)分辨,準(zhǔn)確測(cè)定光學(xué)系統(tǒng)的分辨率始終是光學(xué)工程領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié)。本文將系統(tǒng)闡述基于分辨率板的測(cè)量方法,從理論基礎(chǔ)、工具特性、測(cè)試流程及誤差控制等維度,揭示其在光學(xué)檢測(cè)中的核心應(yīng)用價(jià)值。
넶5 2025-06-03
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